주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)는 전자선 Electron beam을 시료표면에 주사하여
전자선이 한곳에 집중되면 일차 전자만 굴절되고 표면에서 발생된 이차전자를 수집하여 그 신호들을 형상화 시키는 SEM 입니다.
SEM은 EDS(Energy Dispersive Spectrometer)가 부착되어 있어 시료의 성분(정성/정량) 결과를 얻을 수 있습니다.
SEM/EDS 장비는 화학분석, 구조분석, 형상분석, 물성분석, 표면분석 등에 활용되고 있습니다.
㈜지에스이엠 시험분석센터는 고성능 FE-SEM 장비외 다수의 SEM/EDS 장비를 통해 시험분석을 지원하고 있습니다.
(Brand : CQT, Normal-SEM)
(Brand : CQT, Beam Type : Schottky type)
(Brand : CQT, Beam Type : Schottky type)
(Brand : HITACHI, Beam type : Cold Emission type)
(Brand : CQT, Beam Type : Schottky type, Ion Source Type : Liquid Gallium Ion Source)
(Brand :THERMOFISHER, Tabletop-SEM)
(Brand :COXEM, Tabletop-SEM)
(Brand :COXEM, Tabletop-SEM)
이온밀링은 아르곤 이온 빔을 이용하여 시료의 단면을 식각하는 장비로,
시료단면에 구조적 손상과 같은 물리적 변형을 주지 않으며 화학적 공정 또한 필요하지 않아 복합한 공정없이 깨끗한 단면 처리가 가능합니다.
또한 수십um에서 수mm 영역까지 보다 넓은 면적을 가공하여 시료단면 분석에 용이합니다.
(Model : CP-8000 Plus, COXEM)
전도성이 없는 시료 및 전도성이 약한 시료의 표면에 Au, Pt를 이온스퍼터링하여 SEM 분석력을 향상시키기 위하여 사용되는 필수 전처리 장비 입니다.
타겟은 Au, Pt, Ag 등을 주로 사용하여 시료의 표면에 증착(도금)을 시켜 사용하며,
분석하고자 하는 시료의 상태에 따라서 전압을 조절하여 도금(증착) 두께를 조절할 수 있습니다.
(Model : G10/G20, GSEM)
(High Vacuum Dual Target Ion Sputter Coater)
(High Vacuum Carbon Coater)
(Low Vacuum Plasma Cleaner)
본 장비는 컷팅기, 마운팅기, 연마기로 이루어진 장비 시스템으로 시료의 표면관찰, 경도측정, 성분분석 등의
다양한 실험을 위하여 시편 제작이 필요한 경우 사용되는 장비 입니다.
각종소재(금속,합금,세라믹,복합재료등) 및 불량분석, 정교하게 시편을 파괴, 제작을 함으로써 내부의 미세관찰과 분석을 위한 용도로 사용됩니다.
(Model : DAIMO-100 Series, MTDI)
모든 재료에 대하여 절단이 가능하며, 시편의 표면에 열 손상이 발생하지 않고, 정밀하게 절단할 수 있습니다. 냉각수 공급 방식으로 청결한 유지 관리가 가능하며, 절단 효율이 우수합니다.
(Model : ETOS-200 Series, MTDI)
매우 작거나 취급하기 어려운 시편을 일정한 크기로 성형하기 위한 장비입니다.
다양한 Resin 을 이용하여 고온/고압 상태에서 제작.
온도 및 압력에 영향받는 시편에 따라 Cold 타입 적용
(Model : FOBOS-100 Series, MTDI)
금속을 비롯한 다양한 재료에 대하여 조직관찰 및 경도측정을 위한 연마(폴리싱)장비입니다.
광학현미경은 명시야관찰법(BF), 암시야관찰법(DF), 일반편광관찰법(POL), 미분간섭관찰법(DIC),
형광관찰법(FL)의 다양한 관찰법으로 산업/생명분야 전반에 걸쳐 분석에 적합하게 적용이 가능하도록
다양한 어플리케이션을 제공하며, LED조명을 기본으로 우수한 색재현성으로 뛰어나 영상과 다양한 솔루션을 제공합니다.
(Model : DSX1000, OLYMPUS)
DSX1000 디지털현미경은 광학현미경이 가지고 있는 장점과 디지털 현미경의 편의성이 융합되어 간단한 조작으로 편리한 관찰 및 2D/3D 분석이 가능합니다.
(Model :BS53M, OLYMPUS)
다양한 관찰법과 배율로 최고의 해상도와 높은 정밀도로 이미지분석 및 측정이 가능하며, 다양한 어플리케이션을 통하여 최적의 분석이 가능합니다.
(Model : LUSIS101, GSEM)
다양한 배율의 줌렌즈방식과 3D VIEW방식으로 최적의 배율과 이미지를 통하여 표면검사 및 측면검사가 가능합니다.
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